Sistema de análisis de superficies UHV de Multi Technique para XPS, AES, SEM / SAM, ISS y perfiles de profundidad con alta resolución de espacio y energía en los diferentes tipos de muestras conductoras y no conductoras. Con la posibilidad de modificar la superficie del material y realizar procesos electroquímicos.
Esta plataforma permite caracterizar la superficie y la interfaz de los materiales con alta resolución en términos de composición y morfología. Es un sistema de vacío ultraalto que integra varias técnicas de caracterización de la superficie y la interfaz, como la espectroscopia de emisión fotográfica (XPS, UPS), la espectroscopia de dispersión de iones y la espectroscopia con resolución lateral que proporciona capacidad de imagen (SEM / SAM). El sistema tiene una etapa de preparación para modificar la superficie de las muestras en estudio, así como preparaciones en condiciones de alta presión y procesos electroquímicos.
Análisis superficial de materiales electroquímicamente ciclados
Determinación de la composición química de la superficie.
Modificación de la superficie exterior de los materiales.
Modificación de materiales y alta presión.
CIC energiGUNE
Persona de contacto: Leire Olaeta Rodríguez
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