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  • Dual Beam FEG-SEM FIB

    Equipo DualBeam QUANTA3DFEG de FEI. Dispone de un microscopio electrónico de barrido de alta resolución (~1nm) y de un cañón de iones de Galio que permite la deposición y ablación de material. Además, se ha desarrollado un software para análisis de imágenes que permite resolver las tensiones residuales a partir de las imágenes obtenidas de FEGSEM en un rango de escalas desde 1 um hasta 800 um y unas 0.5 - 50 um de profundidad.

      EKIPO ETA OSAGAI GARRANTZITSUENAK

    • DualBeam QUANTA3DFEG
    • Software DIC basado en MATLAB

    AKTIBOAK ESKAINTZEN DITUEN ZERBITZUAK

    Medición de la tensión residual perfilada en so

    Distribución de tensiones residuales a través de una superficie soldada con resolución micrométrica. Estudio del perfil de tensiones residuales en la zona afectada por el calor (HAZ).

    Medida de la distribución de tensiones residuale

    Distribución de tensiones residuales a lo largo de una superficie rectificada con resolución micrométrica.

    Medida de perfiles de tensiones en profundidad de

    Medida del tensor de tensiones residuales en profundidad en el rango de 0.5-50 micras.

    AKTIBOA KUDEATZEN DUEN ERAKUNDEA

    CEIT
    Harremanetarako pertsona:
    Jon Alkorta