basque digital innovation HUB logo
Itzuli bilaketara

IZENA

Dual Beam FEG-SEM FIB

AZALPENA

Equipo DualBeam QUANTA3DFEG de FEI. Dispone de un microscopio electrónico de barrido de alta resolución (~1nm) y de un cañón de iones de Galio que permite la deposición y ablación de material. Además, se ha desarrollado un software para análisis de imágenes que permite resolver las tensiones residuales a partir de las imágenes obtenidas de FEGSEM en un rango de escalas desde 1 um hasta 800 um y unas 0.5 - 50 um de profundidad.

EKIPO ETA OSAGAI GARRANTZITSUENAK

DualBeam QUANTA3DFEG +
Software DIC basado en MATLAB +

AKTIBOAK ESKAINTZEN DITUEN ZERBITZUAK

services book icon
357

Medición de la tensión residual perfilada en so

services book icon
349

Medida de la distribución de tensiones residuale

services book icon
347

Medida de perfiles de tensiones en profundidad de

AKTIBOA KUDEATZEN DUEN ERAKUNDEA

CEIT-IK4

Manuel Lardizabal, 15

20018 DONOSTIA-SAN SEBASTIÁN, GIPUZKOA

Harremanetarako pertsona:

Jon Alkorta

jalkorta@ceit.es

imprimir Dual Beam FEG-SEM FIB" class="envelope">

Eska iezaguzu 4.0 proposamen bat

Erlazionatutako beste aktibo batzuk

Eskatu zure proposamena

Hobeto ezagutu nahi zaitugu. Erantzun galdera batzuk eta zure 4.0 bitartekariak 4.0
konponbideak txertatzeko proposamen onena aurkeztuko dizu.

  • OrdenNecesidades 
    numera del 1 al 3 siendo el 1 tu mayor prioridad
  • SPRI-Enpresa-garapenerako Euskal Agentziak, datuen tratamenduaren arduraduna izanik, zure datu pertsonalak jasotzen ditu gure laguntza-programa eta zerbitzuekin lotutako zerbitzuak eskaintzeko. Harekin harremanetan jartzeko, idatzi lopd@spri.eushelbidera. Tratamendu horren helburuei eta zilegitasunari buruzko informazio gehiago izateko eta dagozkizun eskubideen xehetasunak jakiteko, helbide honetara jo dezakezu: www.spri.eus/politicaprivacidad