Difractómetro de Rayos X

AZALPENA

Equipo de difracción X-Pert MRDde PANalytical. Tiene un radio de 320 mm y cuenta con una plataforma portamuestras con cuna de Euler (goniómetro) que permite no sólo el giro alrededor del eje del difractómetro (q) sino también alrededor de los dos ejes perpendiculares al mismo, f y y, por lo que es ideal para la medida de texturas cristalográficas y tensiones residuales. Permite además el movimiento en las direcciones x, y y z para el correcto posicionamiento de la muestra. Se trata de un difractómetro horizontal (el movimiento 2theta del detector se realiza en el plano horizontal) por lo que el portamuestra está en posición vertical que permite medir muestras con un peso máximo de 500 g y una altura máxima de 24 mm. Permite trabajar tanto con óptica de Bragg-Brentano como de haz paralelo. Este última se emplea especialmente para medidas de fases, parámetros de red y tamaño de cristalitos en películas delgadas mediante el método de incidencia rasante. Dispone de radiación de Cu y de Cr. Cuenta con un detector proporcional puntual. Este equipo se utiliza para tanto para la identificación y cuantificación de fases como para la medida de tensiones residuales (con radiación de Cu o Cr), de texturas cristalográficas y de análisis de fases en películas delgadas mediante ángulo rasante (con radiación de Cu) en muchos tipos de materiales (metales, cerámicos) y películas delgadas. Cuenta con los softwares HIGH SCORE para la identificación de fases así como STRESS y TEXTURE para el análisis de tensiones residuales y texturas. La difracción de rayos-X es una técnica insustituible para el análisis y caracterización de un amplio rango de materiales. En Ceit-IK4 se viene empleando en gran parte de los proyectos de la División de Materiales y Fabricación, así como en el Grupo de Monitorización de la División de Transporte y Energía para la caracterización de películas delgadas y sustratos nanoestructurados para distinto tipo de sensores innovadores.